影響氣密性測試結果的因素很多，其中最重要的是溫度和體積的變化。在檢測過(guò)程中，一旦密封空氣回路中的溫度和體積發(fā)生變化，就會(huì )根據查理定律引起壓力變化，這將對泄漏測試造成更大的誤差。

　　氣密性檢漏儀在測試過(guò)程中，被測物一側的空氣回路的空氣溫度變化與壓差之間的關(guān)系如下：

　　例t = 25℃，Δt= 1℃ 

　?、貾= 100kPa SoΔPt≒675Pa（當被測物體的溫度下降時(shí)，壓力降低，并且出現正測量值。）

　?、赑≒-101.3kPa（真空）= 0kPa（絕對壓力），因此ΔPt= 0 Pa  

　　溫度對氣密性檢漏儀的影響

　　綜上所述，我們可以得出結論，在真空條件下，它不受溫度變化的影響嗎？ 測試誤差與測試壓力成正比。測試壓力越接近真空，誤差越小。如果實(shí)際環(huán)境溫度穩定，則不同溫度環(huán)境下測試結果的影響很小。例如，溫度環(huán)境與5攝氏度之間的差約為5 /（273 + 20）≈1.7％。而且如果在測試過(guò)程中發(fā)生溫度變化，將對測試結果產(chǎn)生重大影響。

　　氣密性檢漏儀在正常情況下，以下原因將導致溫度變化影響測試： 

　　1.充氣過(guò)程中氣體分子的摩擦生熱

　　常見(jiàn)現象：充氣過(guò)程中氣體分子的摩擦會(huì )引起熱量產(chǎn)生。 根據氣體方程PV = NRT，可以知道測試腔的內部壓力會(huì )增加。 充氣完成后，溫度將緩慢恢復到正常的室溫。如果穩壓時(shí)間不夠，也就是說(shuō)腔體的內部溫度仍處于下降到測試階段的恢復期，那么由溫度下降引起的壓降將直接反映在所測試的泄漏量上這個(gè)儀器。

　　影響：在測試階段，泄漏量從大到小變化，直到穩定為止。

　　方法一：延長(cháng)電壓穩定時(shí)間。在進(jìn)入測試階段之前，使測試室的內部溫度自然達到外部溫度。這是常用的最直接，最有效的方法。 缺點(diǎn)是對于某些不容易導電的產(chǎn)品，例如較大的內部空間或塑料部件，充氣后產(chǎn)品內部的溫度可能需要很長(cháng)時(shí)間才能恢復到正常溫度。這將導致更長(cháng)的測試周期并影響消耗效率。

　　方法二：縮短溫度恢復時(shí)間。對于內部空間較大的產(chǎn)品，請嘗試填充測試腔，以減小測試腔的體積。

　　方法三：在測試參考端添加與測試產(chǎn)品相同的參考件或儲氣罐，以抵消相同的溫度變化。（這是壓差測試方法比直接壓力測試方法的優(yōu)勢之一）

　　2.排氣溫度 

　　常見(jiàn)現象：測試完成后，產(chǎn)品內的氣體被排出后，將帶走產(chǎn)品和密封工具上的局部溫度。如果立即停止對同一產(chǎn)品的第二次測試，則在電壓穩定后，產(chǎn)品的內部氣體溫度狀態(tài)將首先降低，然后升高。在測試階段，這將導致空腔的內部壓力略有上升，從而抵消局部泄漏。

　　影響：對同一產(chǎn)品進(jìn)行重復測試時(shí)，測試結果將顯示小于一次。 如果重復測量中間距離時(shí)間，則會(huì )重復測試結果，這會(huì )影響測試的穩定性。

　　處理方法：對同一產(chǎn)品進(jìn)行重復測試時(shí)，兩次測試之間需要足夠的時(shí)間以使產(chǎn)品返回正常測試狀態(tài)，并且每次測試的間隔時(shí)間最好不同。在設備上進(jìn)行重復測試時(shí)，您可以選擇以多個(gè)產(chǎn)品周期停止測試。

　　對于某些指標相對較小且可重復性較高的產(chǎn)品，在設計工具時(shí)，請考慮使用硬質(zhì)樹(shù)脂材料作為直接接觸密封固定裝置，以防止使用導熱性更好的金屬材料。

　　3.測試產(chǎn)品本身具有溫度

　　常見(jiàn)現象：加工過(guò)的工件直接清洗后直接進(jìn)入測試臺。 工件本身也具有高溫。在冬季，將放置在室外的工件帶出房間，然后停止測試。

　　影響：當較高溫度的測試片停止加熱充氣氣體更長(cháng)的時(shí)間時(shí)，產(chǎn)品內部的氣壓將在測試階段上升而不會(huì )下降，測試結果將顯示為負值。從低溫環(huán)境到高溫環(huán)境直接測試的產(chǎn)品可能會(huì )因溫度差異和不同的測試時(shí)間而顯示出較大的泄漏質(zhì)量，并且可能還會(huì )顯示出不同的負測試值現象。